A ZEISS apresenta a sua nova geração de microscópios de varredura equipados com feixe de íons (MEV/FIB) para aplicações de elevada complexidade, direcionado para pesquisa científica e para P&D na indústria. O ZEISS Crossbeam 550 traz melhorias significantes quanto a resolução das imagens na caracterização de materiais, assim como, um ganho importante na velocidade de preparação das amostras.

 

Materiais nano estruturados como compósitos, metais, biomateriais e/ou semicondutores podem ser investigados paralelamente em termos de imageamento e para microanálise.

 

O ZEISS Crossbeam 550 permite ao usuário realizar tarefas de nano conformação, enquanto faz imagens da sua amostra. Isso reflete-se numa preparação de amostras mais veloz, acompanhada de alta produtividade no desbaste (milling) e nas demais operações típicas com feixe de íons (por exemplo: nano conformação, preparação de lamelas para amostras de MET ou ainda cross-sectioning).

 

O ZEISS Crossbeam 550 entrega a melhor qualidade de imagem, tanto em 2D como 3D. O novo modo de desaceleração do feixe (Tandem decel) permite alta resolução e elevado contraste, mesmo operando em baixas energias (tensão de aceleração). A pioneira ótica de elétrons da coluna Gemini II® oferece alta resolução em baixa tensão (low voltage), acompanhada de alta corrente da sonda (feixe). A coluna FIB combina elevada corrente (de 100nA) com o novo modo para preparação de amostras (FastMill). Essa combinação resulta num processamento de amostras mais eficiente e preciso, concomitantemente ao seu imageamento.

 

O novo processo de automação para a nano conformação torna esta etapa simples e amigável para o operador, otimizando a coluna FIB para resultados de grande reprodutibilidade, mesmo nos experimentos de longa duração. Pesquisadores da área de materiais podem se beneficiar das características analíticas 3D exclusivas, graças ao novo e totalmente integrado modo 3D para microanálises (3D/EDS), com o Atlas 5.

 

Para aplicações biológicas e ciências da vida os resultados advindos do novo ZEISS Crossbeam 550 garantem alta resolução em baixas tensões, acompanhada da surpreendente estabilidade do feixe. Tal combinação reflete-se na qualidade final dos ensaios 3D de longa duração (tomografias). Essas características podem, ainda, serem integradas via microscopia correlativa, combinadas com microscopia de luz e microscopia de raios-x.

 

O ZEISS Crossbeam 550 substitui o seu predecessor Crossbeam 540 e está disponível, pela primeira vez, com uma câmara de grande capacidade. Alguns dos novos opcionais podem inclusive serem instalados nos Crossbeam 540. No dia 4 de maio deste ano, teremos um seminário via web. Oportunidade na qual podem ser obtidas informações adicionais quanto as vantagens do novo ZEISS Crossbeam 550. Para mais detalhes, acesse o site: www.zeiss.com/crossbeam.